電子式漏電斷路器雙應(yīng)力加速退化試驗(yàn)方案研究
趙興洲，繆建華，王澤，李想
(河北工業(yè)大學(xué) 電氣工程學(xué)院，天津 300130)
摘 要：漏電斷路器屬于高可靠性、長壽命產(chǎn)品，在短時(shí)間內(nèi)無法獲取足夠的失效數(shù)據(jù)對其可靠性進(jìn)行評估。在不改變漏電斷路器失效機(jī)理的條件下，提出了雙應(yīng)力交叉步進(jìn)加速退化試驗(yàn)方案，通過分析漏電斷路器的失效機(jī)理，確定溫度、濕度作為加速應(yīng)力，選擇雙應(yīng)力交叉步進(jìn)的應(yīng)力加載方式；根據(jù) Peck 模型中加速因子的計(jì)算，選擇應(yīng)力組合方案，通過摸底試驗(yàn)選擇性能退化特征量，并確定了試驗(yàn)樣品數(shù)量、試驗(yàn)周期等試驗(yàn)參數(shù)，制定出試驗(yàn)程序。該方案有效解決了電子式漏電斷路器可靠性評估試驗(yàn)樣本多和試驗(yàn)時(shí)間長的問題。
關(guān)鍵詞：電子式漏電斷路器；Peck 模型；失效機(jī)理；加速因子
中圖分類號：TM561 文獻(xiàn)標(biāo)識碼：B 文章編號：1007-3175(2022)05-0053-05
Research on Accelerated Degradation Test Scheme with Two Accelerating
Stresses of Electronic Leakage Circuit Breaker
ZHAO Xing-zhou, MIAO Jian-hua, WANG Ze, LI Xiang
（School of Electrical Engineering, Hebei University of Technology, Tianjin 300130, China）
Abstract: Residual current circuit breakers are highly reliable and long-life products and therefore it is impossible to obtain sufficient failure data to evaluate their reliability in a short period.This paper proposed a dual-stress cross-step accelerated degradation test scheme under the condition of not changing the failure mechanism of the leakage circuit breaker.It analyzed the failure mechanism of the leakage circuit breaker and determined the temperature and humidity as the acceleration stress. Moreover, it selected the stress loading mode of double stress cross-stepping.This research chose the stress combination scheme according to the calculation of the acceleration factor in the Peck model,elected the characteristic quantity of performance degradation through the bottom-up test. It determined the testing parameter, such as the number of test samples and the test period. Besides, it formulated the test program.This study effectively solves the problems which excessive test samples and tediously long testing time for reliability evaluation of electronic leakage circuit breakers.
Key words: electronic leakage circuit breaker; Peck model; failure mechanism; acceleration factor
參考文獻(xiàn)
[1] 肖坤，顧曉輝，彭琛. 基于恒定應(yīng)力加速退化試驗(yàn)的某引信用 O 型橡膠密封圈可靠性評估[J] . 機(jī)械工程學(xué)報(bào)，2014，50(16) ：62-69.
[2] 陳志軍，周芳，楊學(xué)印，等. 基于加速退化數(shù)據(jù)的某導(dǎo)電膜電阻貯存壽命預(yù)測方法[J] . 空軍工程大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版)，2019，20(4) ：46-51.
[3] 尹超，周桂法，汪旭，等. 基于加速退化試驗(yàn)的電路板性能退化及可靠性分析[J] . 控制與信息技術(shù)，2018(5) ：70-73.
[4] 呂萌，蔡金燕，梁玉英，等. 小樣本條件下雙應(yīng)力步降加速退化試驗(yàn)優(yōu)化設(shè)計(jì)[J] . 中國測試，2014，40(3) ：129-132.
[5] 陳金濤，朱彬若，張垠，等. 智能電能表的加速退化試驗(yàn)方案研究[J] . 電測與儀表，2018，55(3) ：104-108.
[6] 李賀龍，于海波，何嬌蘭. 基于數(shù)據(jù)融合方法的智能電能表運(yùn)行剩余壽命預(yù)測[J] . 電測與儀表，2019，56(18) ：126-133.
[7] 李奎，李正廣，段宇，等. 基于 Gamma 過程的交流接觸器剩余電壽命仿真預(yù)測[J] . 電測與儀表，2018，55(16) ：105-111.
[8] 李華，孫東旺，賀鵬舉，等. 基于超程時(shí)間回歸模型的繼電器壽命預(yù)測方法[J] . 電工技術(shù)學(xué)報(bào)，2013，28(S2) ：414-417.
[9] 劉幗巾. 剩余電流動作保護(hù)器的可靠性研究[D] .天津：河北工業(yè)大學(xué)，2002.
[10] 武志剛. 漏電斷路器可靠性及其失效機(jī)理分析[D].天津：河北工業(yè)大學(xué)，2012.
