低壓大電流短路試驗(yàn)電壓暫降指標(biāo)探討
朱英杰
（南京電力設(shè)計(jì)研究院有限公司，江蘇 南京 210009）
摘 要：大電流低壓短路試驗(yàn)，其負(fù)荷性質(zhì)主要是沖擊負(fù)荷，大的沖擊負(fù)荷會(huì)導(dǎo)致電網(wǎng)電壓暫降問題。介紹了大電流低壓短路試驗(yàn)的負(fù)荷特征及其基本原理，對(duì)電壓暫降EN、IEEE等國(guó)際組織以及國(guó)內(nèi)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中給出的電壓暫降指標(biāo)進(jìn)行了詳細(xì)的總結(jié)分析與比較，并給出了低壓短路試驗(yàn)電壓暫降推薦標(biāo)準(zhǔn)，供相關(guān)人員參考。
關(guān)鍵詞：短路試驗(yàn)；電壓暫降；推薦標(biāo)準(zhǔn)；SARFI指標(biāo)
中圖分類號(hào)：TM713 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A 文章編號(hào)：1007-3175(2020)06-0065-04
An Exploration on Voltage Sag Index of Low Voltage and Large Current Short Circuit Test
ZHU Ying-jie
（Nanjing Electric Power Design Institute Co., Ltd, Nanjing 210009, China）
Abstract: In the high-current low-voltage short-circuit test, the load nature is mainly an impact load, and a large impact load will cause a sag in the grid voltage. This paper introduces the basic theory of the low voltage & high current short circuit test and its fundamental principle. Then voltage sag index in national standard and international standards of EN and IEEE and the literatures are summarized, analyzed and compared in detail. Finally, the recommended standard of voltage sag in low voltage short circuit test is given for reference.
Key words: short circuit test; voltage sag; recommended standard; SARFI index
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